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维修ICP光谱仪的技巧

今天，ICP光谱仪小编在这里给大家分享一些关于维修ICP光谱仪的技巧，掌握这些方法有助于节省维修时间，提高工作效率。

当光谱仪发生故障时，尤其是发生比较复杂的综合性故障，解决这种故障应该先从比较容易解决的故障入手，如检修仪器的电路板时，先检查电阻、电容、二极管等，再检查集成电路、大功率模块、微处理器IC等。

随着电脑在光谱仪中的应用，使仪器的检测水平大幅提高，功能更智能，许多故障都可以通过电脑自带的诊断程序进行检测。因此，当光谱仪出现问题时，我们可以先用电脑检查软件程序运行是否正常，再分析硬件是否有问题。

光谱仪一般都会有一套完整的体系，有许多辅助设备，当系统出现故障时，应先检查电脑、稳压器等辅助设施，再看仪器主机运行情况。

任何仪器都是靠人来操作的，所以在仪器出现异常时，首先判断是否存在人为的问题。如在操作程序时是否输错数据，忘记打开某个开关，看错某些标志等。在严格按操作程序操作，并排除人为误操作的基础上，再分析仪器自身运行是否存在问题。

ICP光谱仪是什么构成的？

一台典型的ICP光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：

1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。

2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。

3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。

5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。

ICP光谱仪的目标元素

ICP光谱仪是上世纪60年代提出、70年代迅速发展起来的，它的迅速发展和广泛应用是与其克服了经典光源和原子化器的局限性分不开的，那么ICP光谱仪的目标元素都有哪些呢？下面小编就来介绍一下：

ICP光谱仪软质样品（例如：铜、铝、锌、铅）必须车削表面或用酒精湿磨.磨好的表面一定不要玷污（例如用手触摸）.考虑到金属热涨冷缩效应,会影响光线稳定性.温度变化会影响仪器的热平衡,对和一些电器件会造成不稳定,若温差较大对光路也会有影响.

ICP光谱仪对于钢和铸铁（颗粒大小,对钢是60到80之间,对铸铁是40到60之间）,建议用适合于本仪器样品的砂纸干磨.砂纸一定不要被高合金含量的样品污染（例如：应该先用于低合金样品，再用于高合金样品）.样品必须在清洁的、规范的砂纸上磨（没有先前激发处理留下的激发的痕迹）.样品表面不能被抛光（适时更新用过的砂纸）.必须确保样品在磨的过程中没有过热（样品应该与砂纸只有短暂的接触）。ICP光谱仪行业在迅速发展***已进入科技信息化时代，科技技术革命正在逐步渗透到经济社会的各个产业，而分析行业同样在迅速发展。如果需要，样品应该用水冷却，再干燥，再尽可能短的时间干磨.

ICP光谱仪可用标样中目标元素的“真实浓度”与分析线对和强度比（R）拟合工作曲线（校准曲线）。如果铁含量变化过大，如高、中合金钢，其影响不可忽略，需要用标样中目标元素的“相对浓度”（或“浓度比”）与分析线对和强度比（R）拟合工作曲线，这就是我国光谱分析的前辈讲的“诱导含量法”。如果希望用同一工作曲线同时分析高、中、低合金钢，那就都要用“相对浓度”来校正基体含量的影响。同一个故障既可能有性能故障引起，也能由使用故障而引起，因此要根据仪器故障现象来一一识别。更进一步，如果既要校正基体含量的影响，又要校正共存元素的干扰，就应该用“表观浓度”来拟合工作曲线。

ICP光谱仪虽然本身测量准确度很高，但测定试样中元素含量时， 所得结果与真实含量通常不一致，存在一定误差，并且受诸多因素的影响，有的材料本身含量就很低。